石墨管主要分為縱向加熱和橫向加熱兩種類型，按性能可分為普通石墨管、熱解石墨管和平臺(tái)石墨管，適用于不同溫度范圍的原子化元素。
石墨管使用方法和要點(diǎn)：
（一）目前石墨管按加熱方式的不同，有縱向加熱石墨管和橫向加熱石墨管之分。
1.縱向加熱石墨管有：
?、贅?biāo)準(zhǔn)石墨管——適用于原子化溫度≤2000℃的元素，如Ag、Au、Bi、Cd、Cs、Hg、In、K、Mg、Na、Pb、Rb、Se、Sn、Te、Tl、Zn等元素的測試。
②平臺(tái)鍍層石墨管——適用于中、低溫原子化的元素，原子化溫度＜2500℃。如As、Cu、Fe、Mn、Sb以及①中提到的元素。優(yōu)點(diǎn)是精度好，消除干擾能力強(qiáng)。
?、坼儗邮?mdash;—適用于低、中、高溫原子化元素的測定，原子化溫度＞2500℃。如Al、B、Ba、Be、Ca、Co、Cr、Dy、Er、Eu、Ga、Gd、Ge、Ir、La、Li、Mo、Nd、Ni、Os、P、Pd、Pt、Ru、Si、Sm、Sr、Ti、Tm、U、V、Y、Yb。以及①與②中提到元素。
2.橫向加熱石墨管由于加熱方式不同于縱向石墨管，通電后整個(gè)管子均同時(shí)被加熱，不存在溫度梯度的影響，因此它大大優(yōu)于縱向石墨管。
明顯優(yōu)點(diǎn)：
①元素的灰化溫度與原子化溫度會(huì)低一些。
?、谙蓴_能力強(qiáng)。
③靈敏度更高。
同樣，橫向加熱石墨管也有標(biāo)準(zhǔn)石墨管，平臺(tái)鍍層石墨管以及鍍層石墨管之分，作用與縱向石墨管類似。但成本比縱向管要高許多。
?。ǘ┊?dāng)石墨錐已使用過，在裝入石墨管之前應(yīng)將石墨錐與石墨管接觸處用擠去酒精的棉棒進(jìn)行清潔處理，而后將石墨管裝入石墨爐中，校正進(jìn)樣孔。
?。ㄈ﹩?dòng)儀器事先設(shè)計(jì)好的空燒程序，對石墨管進(jìn)行空燒，使石墨管空燒的吸收值近似一個(gè)很小的吸收值或者為零?；蛘哂檬职磩?dòng)在2500℃空燒2-3次，通氬氣，時(shí)間2-3秒。
?。ㄋ模┱{(diào)節(jié)自動(dòng)進(jìn)樣器毛細(xì)管插入石墨管內(nèi)的深度。以去離子水液滴的下端剛剛接觸到石墨管的內(nèi)壁，而同時(shí)液滴上端也脫離進(jìn)樣毛細(xì)管，以此為準(zhǔn)?，F(xiàn)在原子吸收有多種型號儀器裝有內(nèi)窺鏡，可在屏幕上清楚的看見進(jìn)樣針進(jìn)行調(diào)節(jié)。此裝置對儀器操作者極為方便，直觀?？煞奖阏{(diào)節(jié)測試元素的烘干溫度與時(shí)間。
?。ㄎ澹┦珷t用的保護(hù)氣體應(yīng)該采用高純度（≥99.99%）的惰性氣體氬氣而不采用氮?dú)狻?/div>
因?yàn)榈獨(dú)馐箻O大多數(shù)金屬元素的吸收值降低并在高溫下與石墨管的碳生成有毒的CN分子，產(chǎn)生嚴(yán)重的分子發(fā)射和背景吸收。同時(shí)石墨管的壽命也比使用氬氣做保護(hù)氣體時(shí)要短。所以不用氮?dú)舛脷鍤狻?/div>
?。Q一批新石墨管測定時(shí)，必須先進(jìn)行待測元素的烘干溫度和時(shí)間、灰化溫度和時(shí)間、原子化溫度和時(shí)間的選擇試驗(yàn)，求得待測元素的溫度和時(shí)間。因?yàn)槊恳慌艿碾娮瓒嗌贂?huì)有差別。測試人員必須要學(xué)會(huì)做灰化溫度與原子化溫度的曲線工作，求得待測元素的灰化溫度和原子化溫度。利用內(nèi)窺鏡測出烘干溫度與時(shí)間、灰化溫度和時(shí)間。比原裝石墨管電阻大時(shí)需調(diào)低灰化溫度與原子化溫度，相反則要調(diào)高。
?。ㄆ撸┱埛治龉ぷ髡咔杏洠捍郎y樣品溶液不能含有高氯酸、硫酸等強(qiáng)氧化性介質(zhì)，否則對石墨管的破壞很快且嚴(yán)重。尤其是用氫氟酸分解樣品，后用高氯酸趕去氫氟酸的操作，高氯酸必須清除干凈，否則就會(huì)出現(xiàn)開始標(biāo)準(zhǔn)曲線測得很好，測樣品溶液時(shí)很快就出現(xiàn)吸收值相差很大，測試數(shù)據(jù)無法采用，再測標(biāo)準(zhǔn)溶液時(shí)數(shù)據(jù)不準(zhǔn)。也可將氫氟酸分解樣品后的溶液蒸干，然后用稀酸微熱溶解。
?。ò耍┦珷t測定元素時(shí)，吸收值采用峰面積形式而不采用峰高形式測量，這樣帶來較小的誤差，而采用峰高測量時(shí)，影響因素太多，尤其是待測樣品比較復(fù)雜，有影響峰形時(shí)，會(huì)帶來較大的誤差。
?。ň牛y定時(shí)，烘干、灰化、除殘階段，石墨管內(nèi)氣路、外氣路必須通氬氣保護(hù)；原子化階段時(shí)內(nèi)氣路停氣，或小流量氬氣，加熱時(shí)間一般為2-3秒；測定中、高溫原子化元素采用功率加熱，不采用標(biāo)準(zhǔn)石墨管或平臺(tái)石墨管而采用鍍層石墨管測定高溫元素；低溫原子化元素采用1秒或0.X秒加熱。熱除殘溫度高于原子化溫度100-200℃，加熱時(shí)間1-2秒，內(nèi)外通氬氣，可提高石墨管的使用壽命。
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